Rasterelektronenmikroskop

Schliffaufnahmen und einfache Oberflächenstrukturen können in unserem Labor mittels eines Standard-Auflichtmikroskops analysiert und fotografiert werden. Mikroskopaufnahmen mit hoher Schärfentiefe sind mit dieser herkömmlichen Methode jedoch nicht mehr visualisierbar. Abhilfe schafft an dieser Stelle das Rasterelektronenmikroskop.

Im Gegensatz zum Auflichtmikroskop ermöglicht das Rasterelektronenmikroskop (REM) Aufnahmen mit starker Vergrößerung und extrem hoher Schärfentiefe. Diesen Vorteil nutzen wir gezielt für die detaillierte Darstellung und Beurteilung unserer erzeugten Oberflächen, wie beispielsweise Phosphatierungen, Passivierungen und galvanischen Schichten im Bereich der Forschung und Entwicklung. 

Neben einer hervorragenden topographischen Bilderstellung (REM Aufnahme) können auch Elementaranalysen von leitenden Oberflächen mittels EDX (Energiedispersive Röntgenanalyse) zur Bestimmung der chemischen Zusammensetzung der Oberfläche durchgeführt werden.

Sie haben als Kunde Interesse an Oberflächenaufnahmen? Wir lassen Ihnen hierzu gerne ein preisliches Angebot zukommen.

Bitte kontaktieren Sie hierzu Ihren Ansprechpartner aus unserem Hause.